二调工作存在的问题
答案:2 悬赏:30
解决时间 2021-10-27 04:51
- 提问者网友:黑米和小志
- 2021-10-26 08:30
二调工作存在的问题
最佳答案
- 二级知识专家网友:忘川信使
- 2021-10-26 09:44
16 建立8259所用的中断矢量表。 第2通道计时器测试结束;8254第1通道计时器即将完成测试。 第一个64DK RAM第6位故障。
17 调准输入/输出工作,若装有BIOS则启用。 第1通道计时器测试结束;8254第0通道计时器即将完成测试。 第一个64DK RAM第7位故障。
18 测试存储器,如果安装选用的BIOS通过,由可绕过。 第0通道计时器测试结束;即将开始更新存储器。 第一个64DK RAM第8位故障。
19 测试第1通道的中断控制器(8259)屏蔽位。 已开始更新存储器,接着将完成存储器的更新。 第一个64DK RAM第9位故障。
1A 测试第2通道的中断控制器(8259)屏蔽位。 正在触发存储器更新线路,即将检查15微秒通/断时间。 第一个64DK RAM第10位故障。
1B 测试CMOS电池电平。 完成存储器更新时间30微秒测试;即将开始基本的64K存储器测试。 第一个64DK RAM第11位故障。
1C 测试CMOS检查总和。 . 第一个64DK RAM第12位故障。
1D 调定CMOS配置。 . 第一个64DK RAM第13位故障。
1E 测定系统存储器的大小,并且把它和CMOS值比较。 . 第一个64DK RAM第14位故障。
1F 测试64K存储器至最高640K。 . 第一个64DK RAM第15位故障。
20 测量固定的8259中断位。 开始基本的64K存储器测试;即将测试地址线。 从属DMA寄存器测试正在进行或失灵。
21 维持不可屏蔽中断(NMI)位(奇偶性或输入/输出通道的检查)。 通过地址线测试;即将触发奇偶性。 主DMA寄存器测试正在进行或失灵。
22 测试8259的中断功能。 结束触发奇偶性;将开始串行数据读/写测试。 主中断屏蔽寄存器测试正在进行或失灵。
23 测试保护方式8086虚拟方式和8086页面方式。 基本的64K串行数据读/写测试正常;即将开始中断矢量初始化之前的任何调节。 从属中断屏蔽存器测试正在进行或失灵。
24 测定1MB以上的扩展存储器。 矢量初始化之前的任何调节完成,即将开始中断矢量的初始准备。 设置ES段地址寄存器注册表到内存高端。
25 测试除头一个64K之后的所有存储器。 完成中断矢量初始准备;将为旋转式断续开始读出8042的输入/输出端口。 装入中断矢量正在进行或失灵。
26 测试保护方式的例外情况。 读出8042的输入/输出端口;即将为旋转式断续开始使全局数据作初始准备。 开启A20地址线;使之参入寻址。
27 确定超高速缓冲存储器的控制或屏蔽RAM。 全1数据初始准备结束;接着将进行中断矢量之后的任何初始准备。 键盘控制器测试正在进行或失灵。
28 确定超高速缓冲存储器的控制或者特别的8042键盘控制器。 完成中断矢量之后的初始准备;即将调定单色方式。 CMOS电源故障/检查总和计算正在进行。
29 . 已调定单色方式,即将调定彩色方式。 CMOS配置有效性的检查正在进行。
2A 使键盘控制器作初始准备。 已调定彩色方式,即将进行ROM测试前的触发奇偶性。 置空64K基本内存。
2B 使磁碟驱动器和控制器作初始准备。 触发奇偶性结束;即将控制任选的ROM检查前所需的任何调节。 屏幕存储器测试正在进行或失灵。
2C 检查串行端口,并使之作初始准备。 完成ROM控制之前的处理;即将查看任选的ROM并加以控制。 屏幕初始准备正在进行或失灵。
2D 检测并行端口,并使之作初始准备。 已完成任选的ROM控制,即将进行ROM回复控制之后任何其他处理的控制。 屏幕回扫测试正在进行或失灵。
2E 使硬磁盘驱动器和控制器作初始准备。 从ROM控制之后的处理复原;如果没有发现EGA/VGA就要进行显示器存储器读/写测试。 检测ROM正在进行。
2F 检测数学协处理器,并使之作初始准备。 没发现EGA/VGA;即将开始显示器存储器读/写测试。 .
30 建立基本内存和扩展内存。 通过显示器存储器读/写测试;即将进行扫描检查。 认为屏幕是可以工作的。
31 检测从C800:0至EFFF:0的选用ROM,并使之作初始准备。 显示器存储器读/写测试或扫描检查失败,即将进行另一种显示器存储器读/写测试。 单色监视器是可以工作的。
32 对主板上COM/LTP/FDD/声音设备等I/O芯片编程使之适合设置值。 通过另一种显示器存储器读/写测试;却将进行另一种显示器扫描检查。 彩色监视器(40列)是可以工作的。
33 . 显示器检查结束;将开始利用调节开关和实际插卡检验显示器的关型。 彩色监视器(80列)是可以工作的。
34 . 已检验显示器适配器;接着将调定显示方式。 计时器滴答声中断测试正在进行或失灵。
35 . 完成调定显示方式;即将检查BIOS ROM的数据区。 停机测试正在进行或失灵。
36 . 已检查BIOS ROM数据区;即将调定通电信息的游标。 门电路中A-20失灵。
37 . 识别通电信息的游标调定已完成;即将显示通电信息。 保护方式中的意外中断。
38 . 完成显示通电信息;即将读出新的游标位置。 RAM测试正在进行或者地址故障>FFFFH。
39 . 已读出保存游标位置,即将显示引用信息串。 .
3A . 引用信息串显示结束;即将显示发现<ESC>信息。 间隔计时器通道2测试或失灵。
3B 用OPTI电路片(只是486)使辅助超高速缓冲存储器作初始准备。 已显示发现<ESC>信息;虚拟方式,存储器测试即将开始。 按日计算的日历时钟测试正在进行或失灵。
3C 建立允许进入CMOS设置的标志。 . 串行端口测试正在进行或失灵。
3D 初始化键盘/PS2鼠标/PNP设备及总内存节点。 . 并行端口测试正在进行或失灵。
3E 尝试打开L2高速缓存。 . 数学协处理器测试正在进行或失灵。
40 . 已开始准备虚拟方式的测试;即将从存储器来检验。 调整CPU速度,使之与外围时钟精确匹配。
41 中断已打开,将初始化数据以便于0:0检测内存变换(中断控制器或内存不良) 从存储器检验之后复原;即将准备描述符表。 系统插件板选择失灵。
42 显示窗口进入SETUP。 描述符表已准备好;即将进行虚拟方式作存储器测试。 扩展CMOS RAM故障。
43 若是即插即用BIOS,则串口、并口初始化。 进入虚拟方式;即将为诊断方式实现中断。 .
44 . 已实现中断(如已接通诊断开关;即将使数据作初始准备以检查存储器在0:0返转。) BIOS中断进行初始化。
45 初始化数学协处理器。 数据已作初始准备;即将检查存储器在0:0返转以及找出系统存储器的规模。 .
46 . 测试存储器已返回;存储器大小计算完毕,即将写入页面来测试存储器。 检查只读存储器ROM版本。
47 . 即将在扩展的存储器试写页面;即将基本640K存储器写入页面。 .
48 . 已将基本存储器写入页面;即将确定1MB以上的存储器。 检查,CMOS重新配置。
49 . 找出1BM以下的存储器并检验;即将确定1MB以上的存储器。 .
4A . 找出1MB以上的存储器并检验;即将检查BIOS ROM数据区。 进行的初始化。
4B . BIOS ROM数据区的检验结束,即将检查<ESC>和为软复位清除1MB以上的存储器。 .
4C . 清除1MB以上的存储器(软复位)即将清除1MB以上的存储器. 屏蔽BIOS ROM。.
4D 已清除1MB以上的存储器(软复位);将保存存储器的大小。 .
4E 若检测到有错误;在显示器上显示错误信息,并等待客户按<F1>键继续。 开始存储器的测试:(无软复位);即将显示第一个64K存储器的测试。 显示版权信息。
4F 读写软、硬盘数据,进行DOS引导。 开始显示存储器的大小,正在测试存储器将使之更新;将进行串行和随机的存储器测试。 .
17 调准输入/输出工作,若装有BIOS则启用。 第1通道计时器测试结束;8254第0通道计时器即将完成测试。 第一个64DK RAM第7位故障。
18 测试存储器,如果安装选用的BIOS通过,由可绕过。 第0通道计时器测试结束;即将开始更新存储器。 第一个64DK RAM第8位故障。
19 测试第1通道的中断控制器(8259)屏蔽位。 已开始更新存储器,接着将完成存储器的更新。 第一个64DK RAM第9位故障。
1A 测试第2通道的中断控制器(8259)屏蔽位。 正在触发存储器更新线路,即将检查15微秒通/断时间。 第一个64DK RAM第10位故障。
1B 测试CMOS电池电平。 完成存储器更新时间30微秒测试;即将开始基本的64K存储器测试。 第一个64DK RAM第11位故障。
1C 测试CMOS检查总和。 . 第一个64DK RAM第12位故障。
1D 调定CMOS配置。 . 第一个64DK RAM第13位故障。
1E 测定系统存储器的大小,并且把它和CMOS值比较。 . 第一个64DK RAM第14位故障。
1F 测试64K存储器至最高640K。 . 第一个64DK RAM第15位故障。
20 测量固定的8259中断位。 开始基本的64K存储器测试;即将测试地址线。 从属DMA寄存器测试正在进行或失灵。
21 维持不可屏蔽中断(NMI)位(奇偶性或输入/输出通道的检查)。 通过地址线测试;即将触发奇偶性。 主DMA寄存器测试正在进行或失灵。
22 测试8259的中断功能。 结束触发奇偶性;将开始串行数据读/写测试。 主中断屏蔽寄存器测试正在进行或失灵。
23 测试保护方式8086虚拟方式和8086页面方式。 基本的64K串行数据读/写测试正常;即将开始中断矢量初始化之前的任何调节。 从属中断屏蔽存器测试正在进行或失灵。
24 测定1MB以上的扩展存储器。 矢量初始化之前的任何调节完成,即将开始中断矢量的初始准备。 设置ES段地址寄存器注册表到内存高端。
25 测试除头一个64K之后的所有存储器。 完成中断矢量初始准备;将为旋转式断续开始读出8042的输入/输出端口。 装入中断矢量正在进行或失灵。
26 测试保护方式的例外情况。 读出8042的输入/输出端口;即将为旋转式断续开始使全局数据作初始准备。 开启A20地址线;使之参入寻址。
27 确定超高速缓冲存储器的控制或屏蔽RAM。 全1数据初始准备结束;接着将进行中断矢量之后的任何初始准备。 键盘控制器测试正在进行或失灵。
28 确定超高速缓冲存储器的控制或者特别的8042键盘控制器。 完成中断矢量之后的初始准备;即将调定单色方式。 CMOS电源故障/检查总和计算正在进行。
29 . 已调定单色方式,即将调定彩色方式。 CMOS配置有效性的检查正在进行。
2A 使键盘控制器作初始准备。 已调定彩色方式,即将进行ROM测试前的触发奇偶性。 置空64K基本内存。
2B 使磁碟驱动器和控制器作初始准备。 触发奇偶性结束;即将控制任选的ROM检查前所需的任何调节。 屏幕存储器测试正在进行或失灵。
2C 检查串行端口,并使之作初始准备。 完成ROM控制之前的处理;即将查看任选的ROM并加以控制。 屏幕初始准备正在进行或失灵。
2D 检测并行端口,并使之作初始准备。 已完成任选的ROM控制,即将进行ROM回复控制之后任何其他处理的控制。 屏幕回扫测试正在进行或失灵。
2E 使硬磁盘驱动器和控制器作初始准备。 从ROM控制之后的处理复原;如果没有发现EGA/VGA就要进行显示器存储器读/写测试。 检测ROM正在进行。
2F 检测数学协处理器,并使之作初始准备。 没发现EGA/VGA;即将开始显示器存储器读/写测试。 .
30 建立基本内存和扩展内存。 通过显示器存储器读/写测试;即将进行扫描检查。 认为屏幕是可以工作的。
31 检测从C800:0至EFFF:0的选用ROM,并使之作初始准备。 显示器存储器读/写测试或扫描检查失败,即将进行另一种显示器存储器读/写测试。 单色监视器是可以工作的。
32 对主板上COM/LTP/FDD/声音设备等I/O芯片编程使之适合设置值。 通过另一种显示器存储器读/写测试;却将进行另一种显示器扫描检查。 彩色监视器(40列)是可以工作的。
33 . 显示器检查结束;将开始利用调节开关和实际插卡检验显示器的关型。 彩色监视器(80列)是可以工作的。
34 . 已检验显示器适配器;接着将调定显示方式。 计时器滴答声中断测试正在进行或失灵。
35 . 完成调定显示方式;即将检查BIOS ROM的数据区。 停机测试正在进行或失灵。
36 . 已检查BIOS ROM数据区;即将调定通电信息的游标。 门电路中A-20失灵。
37 . 识别通电信息的游标调定已完成;即将显示通电信息。 保护方式中的意外中断。
38 . 完成显示通电信息;即将读出新的游标位置。 RAM测试正在进行或者地址故障>FFFFH。
39 . 已读出保存游标位置,即将显示引用信息串。 .
3A . 引用信息串显示结束;即将显示发现<ESC>信息。 间隔计时器通道2测试或失灵。
3B 用OPTI电路片(只是486)使辅助超高速缓冲存储器作初始准备。 已显示发现<ESC>信息;虚拟方式,存储器测试即将开始。 按日计算的日历时钟测试正在进行或失灵。
3C 建立允许进入CMOS设置的标志。 . 串行端口测试正在进行或失灵。
3D 初始化键盘/PS2鼠标/PNP设备及总内存节点。 . 并行端口测试正在进行或失灵。
3E 尝试打开L2高速缓存。 . 数学协处理器测试正在进行或失灵。
40 . 已开始准备虚拟方式的测试;即将从存储器来检验。 调整CPU速度,使之与外围时钟精确匹配。
41 中断已打开,将初始化数据以便于0:0检测内存变换(中断控制器或内存不良) 从存储器检验之后复原;即将准备描述符表。 系统插件板选择失灵。
42 显示窗口进入SETUP。 描述符表已准备好;即将进行虚拟方式作存储器测试。 扩展CMOS RAM故障。
43 若是即插即用BIOS,则串口、并口初始化。 进入虚拟方式;即将为诊断方式实现中断。 .
44 . 已实现中断(如已接通诊断开关;即将使数据作初始准备以检查存储器在0:0返转。) BIOS中断进行初始化。
45 初始化数学协处理器。 数据已作初始准备;即将检查存储器在0:0返转以及找出系统存储器的规模。 .
46 . 测试存储器已返回;存储器大小计算完毕,即将写入页面来测试存储器。 检查只读存储器ROM版本。
47 . 即将在扩展的存储器试写页面;即将基本640K存储器写入页面。 .
48 . 已将基本存储器写入页面;即将确定1MB以上的存储器。 检查,CMOS重新配置。
49 . 找出1BM以下的存储器并检验;即将确定1MB以上的存储器。 .
4A . 找出1MB以上的存储器并检验;即将检查BIOS ROM数据区。 进行的初始化。
4B . BIOS ROM数据区的检验结束,即将检查<ESC>和为软复位清除1MB以上的存储器。 .
4C . 清除1MB以上的存储器(软复位)即将清除1MB以上的存储器. 屏蔽BIOS ROM。.
4D 已清除1MB以上的存储器(软复位);将保存存储器的大小。 .
4E 若检测到有错误;在显示器上显示错误信息,并等待客户按<F1>键继续。 开始存储器的测试:(无软复位);即将显示第一个64K存储器的测试。 显示版权信息。
4F 读写软、硬盘数据,进行DOS引导。 开始显示存储器的大小,正在测试存储器将使之更新;将进行串行和随机的存储器测试。 .
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- 1楼网友:不想翻身的咸鱼
- 2021-10-26 10:22
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