高铜银汞合金提高性能的机制
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解决时间 2021-11-16 10:32
- 提问者网友:樱花树下最美的约定
- 2021-11-16 01:48
高铜银汞合金提高性能的机制
最佳答案
- 二级知识专家网友:安稳不如野
- 2021-11-16 02:07
银汞合金产品现虽已经历了六代产品的变更,各类产品均有不同的特点,但这些产品可粗略分为两大类:一类是低铜合金,称普通合金(conventionalalloy)或传统合金(traditionalalloy);另一类是高铜合金,内含分散的银—铜颗粒,又称分散相合金(山s—persedphaalloy), 后者—不断更新逐步替代铜银汞合金。
既往临床使用的银汞合金基本上都属于低铜合金,铜的含量一般控制在6%以下。1963年Innes和Youdelis在合金内加入低共熔体eutectic)的银二铜颗粒,这种合金的含铜量高达28%以上,打破了以往认为含铜量不得超过6%的规定,对普通合金(低铜合金)进行了较根本基本与低铜合金相似,但高铜合金中由于含铜量较高,经汞合反应后除仍有银汞相(丁1)外,还有铜锡相,关于高铜合金能消除Y2的机制如下:以混合型高铜合金为例,汞与混合型合金作用后,自银铜合金和银锡合金中析出的银溶人汞中形成丁l,锡又由银锡合金中析出溶人汞形成Y2,但由于铜与锡的亲和力大于锡与汞,溶液中的锡又趋向与银铜合金中析出的铜结合形成铜锡相(主要为相,少量为巳相),从而取代Y2,并逐渐增厚成层,包绕在尚未起r和汞作用的结果与低铜合金相同,除r外仍可有r2的形成。但以后随着汞合反应的进行,r2与银铜合金作用,形成而使汞析出和银形成rl。这种反应可持续进行,直至余留的银铜合金颗粒被刀和Y1所包绕。
电子显微探针X线图像法可观察到银汞合金的内在结构、各种金属的组成成分,还可以分析出各种成分的含量。用这种方法观察普通合金,可见到银锡相(r相)、银汞相(r1)及锡汞相(r2),其中有空泡及裂隙,究其原因与r2相有关,此相可形成氯化锡、锡—氧—氯或锡氧等。
这与临床上出现的腐蚀现象有关,进而使充填体的边缘及本体折断,造成继发龋等。
MarchallCW等观察充填后10年的普通合金及高铜合金充填体或充填体碎块,证实普通合金有许多成孔部位,特别是深处,其中充满氯化锡,而高铜合金腐蚀产物仅在表面及少数孤立区存在成孔部位。
既往临床使用的银汞合金基本上都属于低铜合金,铜的含量一般控制在6%以下。1963年Innes和Youdelis在合金内加入低共熔体eutectic)的银二铜颗粒,这种合金的含铜量高达28%以上,打破了以往认为含铜量不得超过6%的规定,对普通合金(低铜合金)进行了较根本基本与低铜合金相似,但高铜合金中由于含铜量较高,经汞合反应后除仍有银汞相(丁1)外,还有铜锡相,关于高铜合金能消除Y2的机制如下:以混合型高铜合金为例,汞与混合型合金作用后,自银铜合金和银锡合金中析出的银溶人汞中形成丁l,锡又由银锡合金中析出溶人汞形成Y2,但由于铜与锡的亲和力大于锡与汞,溶液中的锡又趋向与银铜合金中析出的铜结合形成铜锡相(主要为相,少量为巳相),从而取代Y2,并逐渐增厚成层,包绕在尚未起r和汞作用的结果与低铜合金相同,除r外仍可有r2的形成。但以后随着汞合反应的进行,r2与银铜合金作用,形成而使汞析出和银形成rl。这种反应可持续进行,直至余留的银铜合金颗粒被刀和Y1所包绕。
电子显微探针X线图像法可观察到银汞合金的内在结构、各种金属的组成成分,还可以分析出各种成分的含量。用这种方法观察普通合金,可见到银锡相(r相)、银汞相(r1)及锡汞相(r2),其中有空泡及裂隙,究其原因与r2相有关,此相可形成氯化锡、锡—氧—氯或锡氧等。
这与临床上出现的腐蚀现象有关,进而使充填体的边缘及本体折断,造成继发龋等。
MarchallCW等观察充填后10年的普通合金及高铜合金充填体或充填体碎块,证实普通合金有许多成孔部位,特别是深处,其中充满氯化锡,而高铜合金腐蚀产物仅在表面及少数孤立区存在成孔部位。
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