利用特征X射线可以获得样品中的什么信息

利用特征X射线可以获得样品中的什么信息

利用特征X射线可以获得样品中的（元素组成与含量）信息,达到定性和定量分析的目的

使用粉末多晶衍射仪测量单晶体样品时得到的x射线衍射谱，相对于与所测单晶体同种类的多晶样品的x射线衍射谱来说，它的谱图特征可能是：衍射峰数量可能会变少，峰强度会有变化:有的会变强、有的会变弱；如果测试时单晶样品不旋转，有些峰可能就根本不出现，因为其照射角派生的2θ满足不了布拉格公式而发生衍射；其峰强弱依赖于单晶样品在谱仪样品架上的作固定安装的立体角参数。 若将一束单色x射线照射到一粒静止的单晶体上，入射线与晶粒内的各晶面族都有一定的交角θ，其中只有很少数的晶面能符合布拉格公式而发生衍射。要使各晶面族都发生衍射，最常用的方法就是转动晶体。转动中各晶面族时刻改变着与入射线的交角，会在某个时候符合布拉格方程而产生衍射。目前常用的收集单晶体衍射数据的方法是：一为回摆法，二为四圆衍射仪法。 对于一个晶质良好的单晶体在进行xrd谱测定晶体结构参数时，为了得到理想的谱图信息往往要三五次地改变单晶样品在谱仪安装台上的安装固定方位。 粉末多晶衍射仪测量多晶样品时，就不需要转动样品，因为在统计学上必有一些晶面满足于布拉格方程而发生衍射；多晶样品中的晶体的每一个晶面都会在统计学上有相等的几率发生衍射。至于每个晶面拥有各自的重复性因子那是由晶面的位置本身决定的。 衍射峰的强度还和很多因素有关，比如样品的衍射能力、性质、还有仪器功率、测试方法、检测器的灵敏度等等。